Osoba zodpovedná za laboratórium, kontakt, financovanie
Spoločné laboratórium transmisnej elektrónovej mikroskopie má štatút spoločného laboratória so Slovenskou akadémiou vied, konkrétne s Ústavom materiálového výskum, experimentálnej fyziky a geofyziky. Vedúcim laboratória je prof. RNDr. Ján Dusza, DrSc. (jdusza@imr.saske.sk) a jeho zástupcom prof. RNDr. Pavol Sovák, CSc (pavol.sovak@upjs.sk). Za hlavného operátora bol menovaný Ing. Vladimír Girman, PhD (vladimir.girman@upjs.sk). Laboratórium bolo vybudované v rámci riešenia projektu zo štrukturálnych fondov „NanoCEXmat II – Budovanie infraštruktúry Centra excelentnosti progresívnych materiálov s nano a submikrónovou štruktúrou ” (EU ERDF European Regional Development Fund, Grant No. ITMS 26220120035).
Umiestnenie laboratória
Laboratórium SLTEM je umiestnené v zrekonštruovaných priestoroch suterénu Ústavu fyzikálnych vied Prírodovedeckej fakulty UPJŠ v Košiciach, Park Angelinum 9.
Experimentálne vybavenie laboratória
V laboratóriu SLTEM je umiestnený transmisný elektrónový mikroskop JEOL JEM 2100F UHR v celkovej hodnote 832 tis. € (obr. 1). Mikroskop je určený na štúdium štruktúry a subštruktúry tuhých anorganických látok pomocou zväzku elektrónov a RTG žiarenia.
Pracuje s urýchľovacím napätím v rozsahu od 80 do 200kV. Osvetľovacia časť je vybavená Schottkyho FEG katódou s extrémne vysokým výkonom a trojstupňovým kondenzorom. Zobrazovacia časť pozostáva z dvojstupňovej objektívovej časti, trojstuňovej intermediálnej a projektorovej časti. Konštrukčne je ladená na ultra vysoké rozlíšenie (0.19 nm) a maximálne zväčšenie 1.5Mx. Koeficient sférickej a chromatickej vady hlavnej objektívovej šošovky je 0.5, resp. 1.1 mm. Fokusovateľný priemer zväzku zodpovedá hodnote spot size od 2 do 5 nm.
Podporou pre mikroskop je niekoľko stupňová vákuová sústava, záložné zdroje s batériami, chladiče s uzavretým okruhom vody, klimatizácia laboratória a antistatická vodivá podlahovina.
Výskumné možnosti
Mikroskop predstavuje moderný nástroj pre mikro a nanoanalýzy materiálov. Poskytuje všetky metodiky zobrazenia konvenčnej transmisnej elektrónovej mikroskopie, tj. pozorovanie vo svetlom (BF) a tmavom poli (DF), centrované tmavé pole (CDF), dvojlúčové ostvetlenie (WBDF), atď.. V spojitosti s držiakom pre náklon preparátu v osiach X a Y umožňuje pozorovanie štruktúr až na úrovni atomárneho rozlíšenia (HRTEM). Pre podrobnejšie štruktúrne alebo kryštalografické analýzy v TEM režime je možné použiť techniky elektrónovej difrakcie (SAED, NBD, CBED). Výsledky je možné podporiť analýzou chemického zloženia EDS technikou pomocou RTG žiarenia. Analyzátor pracuje s energiovým rozlíšením 129eV a pokrýva oblasť detegovateľných prvkov od uhlíka po urán.
Rozšírenie analytických možností je zabezpečené vybavením mikroskopu skenovacími cievkami a STEM detektormi pre svetlé pole a tmavé pole (ADF a HAADF), kde je možné využívať techniku zobrazenia rozloženia atómov (Z-contrast). Snímkovanie pozorovaných štruktúr je vyriešené prostredníctvom digitálnej kamery.
