Bolo zistené, že je možné ladiť silu interakcie medzi amorfnými tenkými chalkogenidovými vrstvami a elektrónovým lúčom kontrolovaním ich fyzikálnych vlastností. Naše predchádzajúce štúdie naznačili, že táto interakcia je najsilnejšia so sklami s najmenšou elektrickou vodivosťou. Typ povrchového reliéfu vytvoreného počas ožarovania elektrónmi môže byť tiež silne závislý od elektrónovej dávky. Porovnávali sme citlivosť tenkých vrstiev s dvoma zloženiami; menovite Ge9As9Se82 a Ge16As24Se60, ktoré majú maximálnu a minimálnu elektrickú vodivosť, a zistili sme, že nielen posledná vrstva je citlivejšia na ožarovanie elektrónmi, ale aj pri niektorých dávkovacích rozsahoch sa tvoria veľmi zvláštne tvary, ako napríklad krátery šiškovitého tvaru alebo kruhové štruktúry vo vnútri kráterov (viď obrázok nižšie). Výsledky tohto štúdia sme publikovali v Journal of Non-crystalline solids 505 (2019) 37 – 42 s impaktovým faktorom 2,488.
